DTS DeviceTest.Solutions

Testen Sie Ihre Devices und Prozessschritte auf WaferLevel, um höchste Qualität sicherzustellen.
Geeignet für alle Arten von Prozessen und Devices, besonders empfehlenswert für MEMS aufgrund der Vakuumumgebung.

Als Besonderheit sind beliebige Druckstufeneinstellungen im Bereich von ATM bis HV in Messgerätegenauigkeit möglich – beispielsweise um Ihre GYRO- und/oder DRUCK-Sensoren zu testen bzw. zu kalibrieren.

Für Gasdetektoren stehen spezielle NozzleLösungen zur Verfügung – sprechen Sie und dazu einfach an, um die optimale Konfiguration für Ihre Anwendung auswählen zu können.

Taktile Kontaktierungen sind mit Einzelnadel und Probecard möglich – wozu wir unsere erfahrenen Proberpartner mit ins Projekt aufnehmen.

Vertrauen Sie auf die erprobten Lösungen der Adenso VAC.ROBOTICS Plattform und seien Sie damit vorbereitet auf die rasch steigenden Kunden- und Prozessanforderungen

Welche Aufgaben stehen bei Ihnen derzeit an?